מנתח גודל חלקיקים ננומטריים ופוטנציאל זטה
מנתח גודל חלקיקים ננומטריים ופוטנציאל זטה נמצא בשימוש נרחב בתחומי מדע החומרים, התרופות, הביוטכנולוגיה, המזון, הכימיה ועוד. זהו כלי חשוב לחקר יציבות קולואידים, שינוי פני השטח של ננו-חומרים ותכונות חשמליות של מערכות מפוזרות.
תכונות עיקריות
- יכולת ניתוח כפולה:ניתן לבדוק את גודל החלקיקים ואת פוטנציאל הזטה בו-זמנית כדי להעריך באופן מקיף את התכונות הפיזיקליות והכימיות של החלקיקים.
- זיהוי ברגישות גבוהה:שימוש בצינורות פוטומולטיפלרים בעלי ביצועים גבוהים כדי להבטיח שגם אותות חלשים יוכלו להיקלט במדויק, יחס אות לרעש גבוה.
- מערכת בקרת טמפרטורה מדויקת:בקרת תרמוסטט מוליך למחצה, דיוק של עד 0.1 ℃, מבטלת ביעילות את השפעת הטמפרטורה על תוצאות הבדיקה.
- תכנון מעגל אופטי יציב:הזזת תדר אופטי וצימוד סיבים אופטיים, גודל קומפקטי, יכולת חזקה נגד הפרעות, כדי להגן על יציבות הבדיקה.
- עיבוד נתונים במהירות גבוהה במיוחד:קורלטור דיגיטלי מובנה בעל ביצועים גבוהים, רכישה ותפעול נתונים בזמן אמת, כדי לשפר את יעילות הבדיקה ודיוקה.
יתרונות
- מכונה אחת לשימושים מרובים, החוסכת עלויות ניסוי ומקום.
- מהירות בדיקה גבוהה, יכולת שחזור תוצאות גבוהה.
- יכול לנתח חלקיקים בננו-סקאלה, כדי לענות על צרכי מחקר מדעי מתקדם או ייצור תעשייתי.
- מתאים, יכול לבדוק סוגים וריכוזים שונים של דגימות.
- תומך באוטומציה ובבדיקות אצווה, מתאים לניתוח תפוקה גבוהה.
עקרון הפעולה
המנתח משתמש בטכנולוגיית פיזור אור דינמי כדי להקרין חלקיקים ננומטריים המפוזרים בנוזל באמצעות אור לייזר, לנתח את שינוי העוצמה של האור המפוזר עקב תנועת בראון, ואז לחשב את התפלגות גודל החלקיקים. מדידת פוטנציאל זטה מבוססת על עקרון פיזור אור אלקטרופורטי, המבוסס על עקרון פיזור אור אלקטרופורטי, לפיו החלקיקים נעים אלקטרופורטית תחת השפעת שדה חשמלי, ולאחר מכן הקרינה הלייזר מייצרת שינוי דופלר, ולאחר מכן מנתחת את כמות השינוי כדי להשיג את התפלגות גודל החלקיקים באמצעות טכנולוגיית ספקטרוסקופיית קורלציה פוטונית. ניתן להשיג את פוטנציאל הזטה של החלקיקים על ידי ניתוח שינוי התדר. איסוף הנתונים המרכזי מסתמך על מתאם דיגיטלי במהירות גבוהה כדי להבטיח עיבוד מדויק של אותות אלקטרופורזה ופיזור אור. מערכת בקרת הטמפרטורה המדויקת מבטיחה טמפרטורה קבועה לאורך כל תהליך הבדיקה, מבטלת השפעות חיצוניות ומשפרת את יציבות הנתונים.
תחומי יישום
- אפיון ננו-חומרים: ניתוח התפלגות גודל החלקיקים ותכונות חשמליות של פני השטח, כדי להנחות את פיתוח החומרים ואופטימיזציה של הביצועים.
- פיתוח פורמולות תרופות: בדיקת היציבות והפיזור של נשאי תרופות, כגון ליפוזומים, ננו-חלקיקים, מיקרו-אמולסיות וכדומה.
- ביו-רפואה: מחקר מאפייני הגודל והמטען החשמלי של חלקיקים ביולוגיים כגון חלבונים, נגיפים, שלפוחיות תאיות, וכו'.
- מזון וכימיקלים: הערכת היציבות של תחליבים, תמיסות, קולואידים ומערכות אחרות.
- ניטור סביבתי: ניתוח מצב הפיזור והתכונות החשמליות של חלקיקים בגופי מים, כדי לסייע בניהול מזהמים.
- מחקר מדעי וחינוך: כמכשיר סטנדרטי לניסויים בניתוח גודל חלקיקים ופוטנציאל זטה במכללות ובמוסדות מחקר.
| דגם | LP20 | |
|---|---|---|
| תקני יישום | GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996; GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 | |
| טווח מדידה | 1 ננומטר עד 10000 ננומטר | -500mV עד +500mV |
| טווח ריכוז | 0.1 מ"ג/מ"ל עד 100 מ"ג/מ"ל, בהתאם לדגימה | |
| טווח ניידות אלקטרופורטית | יותר מ-±20 um·cm/V·s | |
| מוליכות | ≤ 200 mS/cm, תלוי בדגימה | |
| שגיאת דיוק | פחות מ-1% | פחות מ-15% |
| שגיאת החזרה | פחות מ-1% | פחות מ-15% |
| מקור אור לייזר | לייזר מוליך למחצה, λ = 635 ננומטר, P = 1 עד 40 מיליוואט, ניתן לכוונון | |
| גלאי | צינור פוטומולטיפלר, PMT | |
| זווית פיזור | 90 מעלות | 18 מעלות |
| נפח תא הדגימה | 10 מ"מ x 10 מ"מ x 40 מ"מ, 1 מ"ל עד 4 מ"ל | 10 מ"מ x 10 מ"מ x 60 מ"מ, 1 מ"ל |
| טווח בקרת טמפרטורה | 5°C עד 45°C | |
| דיוק בקרת הטמפרטורה | ±0.1°C | |
| מהירות מדידה | פחות מ-5 דקות | |
| מידות | 560 מ"מ x 450 מ"מ x 300 מ"מ | |
| משקל | 20 ק"ג | |
| ספק כוח | 100 וולט, 230 וולט, 50 הרץ, 60 הרץ | |






English
Français
Tiếng Việt
Italiano
Nederlands
Türkçe
Svenska
Polski
Română
Latviešu
한국어
Русский
Español
Deutsch
Українська
Português
العربية
Indonesian
Čeština
Suomi
Eesti
Български
Dansk
Lietuvių
Bokmål
Slovenčina
Slovenščina
Ελληνικά
Magyar
עברית 